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产品详情
简单介绍：
自动点测时，机械移动速度可达 100ms
来回扫瞄晶粒避免发生错位
自动排除晶粒破裂与双胞状况
30 度旋转平台
自动芯片水平调整
Z 轴自动补偿高度
可调式针座平台
精灵式引导操作步骤
详情介绍：
Chroma 58153 Wafer/Chip 点测机是一台针对2~8吋LED 芯片与晶粒执行点测之精密自动化量测设备。Chroma 58153 点测机搭载高解析CCD camera，高速影像撷取卡，影像辨识定位软件等功能以达到精准的对位与高速的量测表现。另外，58153具有Z轴高度自动补偿与 30度旋转平台自动调整芯片水平位置的功能，这样的设计大幅提升Wafer/Chip量测的稳定性与准确度。
Chroma 58153 精密机械部份配备有半导体级滚珠螺杆、高精密线性滑轨、四轴高力矩、高转速微步进马达、铍铜、钨钢、铼钨探针并具有高度防震与防噪音之设计。
Chroma 58153整合Chroma 58151 PXI LED Test System可以执行LED之光学与电性量测。在量测的产出数量上，目前这样的组合是目前市场上量测速度*快的机种，同时客户的量测成本也可大幅的降低。