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LED 全光通量手动测试系统

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产品名称: LED 全光通量手动测试系统
产品型号: 58173-M
产品展商: chroma(致茂)
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简单介绍

Chroma 大面积光侦测器 全新且独特之 LED 全光通量量测方式 手动精密LED wafer/chip 点测设备 提供全方位电性测试平台

LED 全光通量手动测试系统的详细介绍

硬设备

  • 手动精密 LED wafer/chip 点测设备
  • 漏电流测试模块
  • 电源量测单元
  • 光学测试模块
  • ESD 测试模块(选配)

    Chroma 58173-M 是全新独特的量测LED全光通量之手动测试设备。在LED的裸晶与晶粒测试生产线中,常见使用部份光通量来取代全光通量之量测方式 (见图1) 。然而,传统的量测方式存在一些缺点,例如: 准确度较低、讯噪比较低、与测试时间较长等,以致于导入LED wafer/chip 生产线时会发生问题。

    Chroma 58173-M 研发出一种高速精准的LED全光通量的量测方式 (见图 2)。 这种创新方式不仅比传统方式收集更多的LED部分光通量,也明显提升了量测精确度。

    在光学量测方面,主波长、峰波长、色温等均可透过 Chroma 独特之光学设计与组件取得精确、稳定、快速之数据;在机构方面,58173-M 搭载一个6吋之芯片载盘与校正基座,提供使用者一个完整的校正与测试平台;在电性测试方面,58173-M 提供一个完整之电源量测单元,无论顺向电压、漏电流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性,均可于一次满足使用者的测试需求。

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